Une étude reposant sur des techniques de spectroscopies de photoémission notamment la diffraction de photoélectron X (XPD) a révélé des propriétés originales de l’interface MgO/Ag(001) (schéma ci-dessous). Cette technique permet d'obtenir une résolution couche par couche de l’interface grace à la simulation en diffusion multiple des diagrammes XPD (code MsSpec _ Didier Sébilleau, IPR). Cette résolution expérimentale, couplée à des calculs de structure électronique (DFT) a permis de démontrer la possibilité d’intercaler des atomes de Mg à l’interface MgO/Ag(001). Il en résulte une variation du travail de sortie du système de ~ 0.5 eV corrélée à la modification des effets de polarisation induits par le MgO.
Publications :
- ‘Layer-resolved study of Mg atom incorporation at MgO/Ag(001) buried interface’, Thomas Jaouen, Sylvain Tricot, Gabriel Delhaye, Bruno Lépine, Didier Sebilleau, Guy Jezequel, Philippe Schieffer, Physical Review Letters, 111 (2), pp. 027601 (2013).
- « Induced work function changes at Mg-doped MgO/Ag(001) interfaces: Combined Auger electron diffraction and density functional study », Jaouen T., Aebi P., Tricot S., Delhaye G., Lépine B., Sébilleau D., Jézéquel G., Schieffer P., Physical Review B : Condensed matter and materials physics, 90, 125433 (2014).
- « Tuning the Schottky barrier height at MgO/metal interface », Jaouen T., Jézéquel G., Delhaye G., Lépine B., Turban P., Schieffer P., Applied Physics Letters, 100(2), 022103-022103-3 (2012).
- « Work function shifts, Schottky barrier height, and ionization potential determination of thin MgO films on Ag(001) », Jaouen T., Jézéquel G., Delhaye G., Lépine B., Turban P., Schieffer P., Applied Physics Letters, 97, 2104 (2010).
