Mesures de transport locales: BEEM (Microscopie à Emission d’Electrons Balistiques)

Le BEEM est une technique originale, qui permet la caractérisation simultanée de la morphologie de surface et du transport perpendiculaire à l’échelle nanométrique, de telles hétérostructures. Le montage STM/BEEM développé en environnement ultra-vide (UHV) est un montage quasi unique (il n’existe à notre connaissance qu’un seul appareil équivalent au niveau international) qui a permis d’acquérir, par l’étude de systèmes monocristallins métal/semiconducteur, un savoir-faire et des connaissances permettant d’envisager l’étude de nouveaux systèmes hybrides métal/film moléculaire/semiconducteur. En mode imagerie, les mesures STM/BEEM permettent de déterminer localement (à l’échelle nanométrique) les zones de pénétration du métal à travers le film moléculaire jusqu’à l’interface (comme montré sur la figure ci-dessous à droite, où toutes les zones « claires » correspondent à des zones court-circuitées par l’or). En mode spectroscopie, les signatures d’injection des électrons chauds à travers ces hétérostructures hybrides nous permettent d’obtenir des mesures quantitatives sur les hauteurs de barrières et sur les mécanismes de transport mis en jeu.