En XPS, la spectroscopie de perte d’énergie des photoélectrons (XPS-PEELS) présente le double intérêt de donner accès à la composition chimique et aux propriétés électroniques de surfaces solides. Pour obtenir la fonction diélectrique à l’extrême surface d’un solide (~ 5 nm) sur une large gamme d’énergie (0-50 eV), ce diagnostic non destructif repose sur l’utilisation de la distribution en énergie des photoélectrons résultant des pertes inélastiques par excitation de plasmons (de volume et de surface) que l’on observe dans les spectres XPS expérimentaux.
Une première version de notre algorithme a été testée sur des matériaux modèles (silicium amorphe a-Si:H, diamant polycristallin), ainsi que sur des couches minces de carbone amorphe, avant et après immobilisation d’une monocouche moléculaire. Une méthode par transformée de Fourier a été développée récemment pour étudier les surfaces métalliques.
Dépendance des pertes plasmons de volume et de surface en fonction de l’angle d’émission: α = 0, 45, 55, 65, 75 degrés.
Publications :
- 'Derivation of dielectric function and inelastic mean free path from photoelectron energy-loss spectra of amorphous carbon surfaces', D. DAVID, C. GODET, Applied Surface Science 387 1125-1139 (2016).
- 'Photoelectron Energy Loss in Al(002) Revisited: Retrieval of the Single Plasmon Loss Energy Distribution by a Fourier Transform Method', V.M. SANTANA, D. DAVID, J.S. de ALMEIDA, C. GODET, Brazilian Journal of Physics, 48, 215-226 (2018).
- 'Depth distribution of noble gas atoms implanted in Al matrix : a photoelectron energy loss spectroscopy study', C. GODET, V.M. SANTANA, D. DAVID, Thin Solid Films 659, 70-80 (2018).
